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HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪

核心參數

  • 産地类别 進口
  • 測量時間2min
  • 分辨率
  • 測量範圍0.3nm ~ 10μm
  • 重現性+-2%
  • 分散方式 濕法分散
  • 儀器种类 動態光散射

HORIBA 科学儀器事业部 查看聯系方式

  • 營業執照已審核
  • 品牌性質生産商
  • 白金會員第19年
  • 信用積分4451
  • 反饋速度21-24小時
  • 同类儀器3台
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HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪 産品介紹 相關資料 相關新聞 用戶評論

産品介紹

SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准確測量小顆粒物理性質的分析工具,如顆粒粒徑、zeta電位的檢測,分子量(Mw)以及第二維利系數(A2)的測定;還可以用于檢測蛋白質、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數。


SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型應用包括:納米顆粒,膠體,乳液以及亞微米懸浮液。


産品特點


·  同台儀器可测三种参数——粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數

·  寬檢測範圍,寬濃度範圍——樣品濃度可達40%

·  自動滴定儀——可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定

·  软件操作简单功能强大,一键测量

·  雙光路雙角度粒徑測量(90° 和173°)

·  采用微量樣品池


技術參數


粒徑測量原理:動態光散射法(光子相关光譜法)

粒徑測定範圍:0.3nm ~10μm

粒徑測量精度:±2%(NIST 可溯源标准粒子100nm)

Zeta 电位测量原理:激光多普勒電泳法

Zeta 电位測量範圍:-500 mV ~ +500 mV

分子量測量原理:Debye plot

分子量測量範圍:1000 ~ 2×107 Da

測量角度:90° 和173°(可自动或手动选择)

樣品量:12μL ~ 1000μL

注:该儀器未取得中华人民共和国医疗器械注册证,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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